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F50 光学膜厚测量仪
F50薄膜厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度
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太阳能膜厚纳米厚度测量仪 F50
太阳能膜厚纳米厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统Filmetrics F50 系列的产品能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度。一个电动R-Theta 平台可接受标准和客制化夹盘,样品直径可达
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膜厚测量仪FE-300
8 寸晶圆( 厚度 5 mm ) 测量膜厚范围(nd值) 100 nm ~ 40 μm 10 nm ~ 20 μm 3 μm ~ 300 μm
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膜厚测量仪FE-3
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反射式膜厚测量仪FE-3000
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赛默飞 厚度直接测量仪
测厚仪为运动的Web 材料提供非接触的在线厚度测量。测厚仪的传感器经过特别设计,能准确测量厚达6500 微米(260 密耳)的材料。 ShadowMaster 测量组件包含光学、感应
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浮法玻璃生产线在线厚度应力测量仪
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显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
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OPTM 半导体膜厚测试仪
特长 Features· 膜厚测量中必要的功能集中于头部· 通过显微分光高精度测量绝对反射率(多层膜厚、光学常数)· 1点只需不到1秒的高速tact· 实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近
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薄膜厚度测量仪(光反射膜厚仪)
仪器简介:NanoCal是一款功能强大的膜厚测量仪器。近几年,每年的销售量 都超过200台(整个世界范围)。NanoCal根据型号不同,测量范围可以从 10nm到250um,它
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